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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	Mg_xZn_(1-x)O薄膜样品制备及其结构与带隙分析显示文摘利用共溅射技术制备了MgxZn1-xO薄膜样品,研究了Mg的掺杂浓度对其晶体结构、光学带隙的影响,退火环境与温度对其晶体结构、表面形貌的影响.通过对XRD图的分析表明,所制MgxZn1-xO薄膜样品为六角纤锌矿结构,且随着x值的增大,样品的晶格常数c逐渐减小;对比真空环境下,氧气中退火温度为500~600℃时更有利于提高样品的结晶质量.对吸收谱的分析表明随着Mg掺杂浓度增大,样品的吸收边向短波方向移动,带隙增大.	王炫力王金颖袁浩然姚成宝孙文军	2015	哈尔滨师范大学自然科学学报2015，31，2：	1

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