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		题名	作者	年代	出处	被引量
	1	SiO_2和TiO_2缓冲层对柔性ITO薄膜弯曲特性的影响显示文摘讨论了柔性ITO薄膜在弯曲时导电能力失效的机理及影响因素.考察了SiO2和TiO2作为无机缓冲层的加入对于柔性ITO薄膜弯曲特性的影响.实验结果及分析表明,材料间的失配系数,结合力以及薄膜缺陷是影响ITO薄膜弯曲特性的主要因素.SiO2或TiO2无机缓冲层的加入降低了ITO薄膜抗内弯折临界半径;TiO2缓冲层能够明显增加ITO薄膜的耐弯折次数.	喻志农夏樊李玉琼薛唯赵志伟	2009	北京理工大学学报2009，29，8：	1

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